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AT510PRO是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。可以測(cè)試1μΩ～20MΩ的電阻，Z大顯示30,000數(shù)。高速測(cè)試60次/秒，測(cè)試速度在15次/秒下，依然可以保證0.05%±3字的準(zhǔn)確度。它*的三種電流測(cè)試模式（大電流、小電流、脈沖測(cè)試模式）可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。

熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀 內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。 采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其Z高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。

安柏Applent|AT510X40 40路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～3MΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次，AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

安柏Applent|AT510X20 20路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～3MΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms，AT510X20 20路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)400個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

安柏Applent|AT510X10 10路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～3MΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次，AT510X10 十路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)200個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。